磁粉檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-31 09:40:29 更新時(shí)間:2025-03-30 09:42:44
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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磁粉檢測(cè)(Magnetic Particle Testing, MT)用于檢測(cè)鐵磁性材料(如鋼、鐵、鎳基合金)表面及近表面的裂紋、夾雜、氣孔等缺陷,適用于焊接件、鑄件、鍛件等。核心依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
參數(shù) | 要求 | 示例/范圍 |
---|---|---|
磁化方法 | 軸向通電法、線圈法、磁軛法、中心導(dǎo)體法 | 根據(jù)工件形狀選擇(如焊縫用磁軛法) |
磁化電流類型 | 交流(AC)、直流(DC)、半波整流(HWDC) | AC檢測(cè)表面缺陷,DC檢測(cè)近表面缺陷 |
磁粉類型 | 熒光磁粉(UV光下觀察)、非熒光磁粉(白光) | 熒光磁粉靈敏度更高(ISO 9934-1) |
磁懸液濃度 | 熒光磁粉:0.1-0.3mL/100mL,非熒光:1-3g/L | 按GB/T 15822配制 |
項(xiàng)目 | 方法 | 合格標(biāo)準(zhǔn) |
---|---|---|
試片(A型試片) | 貼附標(biāo)準(zhǔn)試片(如30/100μm裂紋),磁化后觀察磁痕 | 清晰顯示標(biāo)準(zhǔn)刻痕(NB/T 47013.4) |
提升力測(cè)試 | 磁軛法時(shí),磁極間距75mm,提升力≥45N(DC) | ASTM E1444要求 |
缺陷類型 | 磁痕特征 | 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) |
---|---|---|
線性缺陷 | 細(xì)長(zhǎng)、尖銳的磁痕(如裂紋、未熔合) | 不允許(承壓設(shè)備關(guān)鍵部位) |
圓形缺陷 | 點(diǎn)狀或橢圓形磁痕(如氣孔、夾雜) | 直徑≤2mm,間距≥3倍缺陷尺寸 |
設(shè)備/耗材 | 功能要求 | 示例型號(hào) |
---|---|---|
磁粉探傷機(jī) | 輸出電流0-2000A,支持AC/DC/HWDC | 時(shí)代TUD210、美泰MP-2000 |
紫外燈(黑光燈) | 波長(zhǎng)365nm,強(qiáng)度≥1000μW/cm²(距38cm) | Spectroline SB-100P、UVGL-58 |
磁懸液 | 熒光/非熒光,油基或水基 | Magnaflux 14A、阿克蘇諾貝爾 |
標(biāo)準(zhǔn)試片 | A型(30/100μm)、C型(圓形人工缺陷) | 日本H本A-30、國(guó)產(chǎn)B型試片 |
問(wèn)題 | 原因分析 | 解決方案 |
---|---|---|
磁痕模糊 | 磁懸液濃度不足或磁化電流過(guò)低 | 調(diào)整濃度至0.2mL/100mL,增大電流20% |
偽缺陷顯示 | 表面粗糙或雜質(zhì)干擾 | 重新打磨表面,更換清潔磁懸液 |
退磁不徹底 | 退磁方法不當(dāng)或磁場(chǎng)強(qiáng)度不足 | 采用交變衰減磁場(chǎng),多次反向磁化 |
熒光磁粉亮度低 | UV光強(qiáng)度不足或磁粉失效 | 更換UV燈管,檢查磁粉有效期 |
通過(guò)規(guī)范化的磁粉檢測(cè),可有效識(shí)別鐵磁性材料的表面及近表面缺陷,適用于航空航天、石油管道、軌道交通等關(guān)鍵領(lǐng)域。建議根據(jù)工件材質(zhì)、形狀及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)選擇合適參數(shù),并通過(guò)資質(zhì)人員操作確保結(jié)果可靠性。
證書編號(hào):241520345370
證書編號(hào):CNAS L22006
證書編號(hào):ISO9001-2024001
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