原料藥的X射線衍射(XRD)檢測
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發(fā)布時間:2025-03-12 15:16:36 更新時間:2025-03-11 15:17:17
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
原料藥的X射線衍射(XRD)檢測是藥物晶型分析、多晶型鑒別及質(zhì)量控制的關(guān)鍵手段,直接關(guān)系到藥物的理化性質(zhì)(如溶解度、穩(wěn)定性)及生物利用度。以下是基于 ICH Q6A(新原料藥質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn))、USP <941>(X射線衍射法通則) 及 EP 2.9.33(歐洲藥典XRD方法) 的系統(tǒng)化檢測方案:
參數(shù) | 典型設(shè)置 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
---|---|---|
X射線源 | Cu Kα(λ=1.5406 Å),電壓40kV,電流40mA | USP <941> |
掃描范圍(2θ) | 5°~50°(廣角)或根據(jù)晶型特征調(diào)整 | EP 2.9.33 |
步長與時間 | 0.02°步長,0.5~2秒/步 | ICH Q2(R1) |
樣品制備 | 粉末過200目篩,平整壓片(無擇優(yōu)取向) | ISO 20203:2015 |
設(shè)備/工具 | 用途 | 推薦型號/品牌 |
---|---|---|
X射線衍射儀 | 晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)采集 | Bruker D8 Advance(Cu靶) |
樣品制備套件 | 粉末研磨與裝樣 | McCrone Micronizing Mill |
數(shù)據(jù)分析軟件 | 譜圖處理與晶型匹配 | Jade 2020(MDI)、HighScore Plus |
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) | 儀器校準(zhǔn)與方法驗證 | NIST 640c(硅)、LaB6(波長標(biāo)定) |
參數(shù) | USP <941> | EP 2.9.33 | ChP 2020(中國藥典) |
---|---|---|---|
掃描范圍 5°~40°(常規(guī)) | 5°~50°(廣角) | 5°~50°(通則 0451) | |
晶型匹配要求 主峰偏差≤0.1° 2θ | 主峰偏差≤0.05° 2θ | 主峰偏差≤0.1° 2θ | |
結(jié)晶度報告 需標(biāo)注方法(如基線法) | 需定量非晶相比例 | 需注明檢測條件與算法 |
問題 | 可能原因 | 解決方案 |
---|---|---|
峰位偏移 | 樣品制備不當(dāng)(擇優(yōu)取向) | 重新研磨,旋轉(zhuǎn)樣品臺消除取向 |
基線漂移 | 非晶相散射或儀器噪聲 | 扣除空氣散射背景,延長計數(shù)時間 |
多晶型混淆 | 晶型相似或混晶 | 結(jié)合DSC/TGA驗證,提高掃描分辨率 |
強(qiáng)度異常 | 樣品厚度不均或吸收效應(yīng) | 優(yōu)化裝樣密度,使用薄層樣品架 |
報告內(nèi)容:
法規(guī)要求:
通過規(guī)范的XRD檢測,可確保原料藥晶型一致性,避免因晶型問題導(dǎo)致的藥物失效或安全隱患。建議在工藝變更(如干燥條件、結(jié)晶溶劑)后增加晶型篩查頻次,并建立企業(yè)內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)(如特征峰強(qiáng)度比閾值)。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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