您現(xiàn)在的位置：首頁(yè) > 檢測(cè)項(xiàng)目 > 其他檢測(cè)

礦石檢測(cè)

1對(duì)1客服專屬服務(wù)，免費(fèi)制定檢測(cè)方案，15分鐘極速響應(yīng)

可選形式：電子報(bào)告紙質(zhì)報(bào)告

可選語(yǔ)言：中文報(bào)告英文報(bào)告

發(fā)布時(shí)間：2025-03-10 17:10:07 更新時(shí)間：2025-03-09 17:12:01

點(diǎn)擊：0

作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

礦石檢測(cè)需圍繞 元素成分、礦物組成、物理特性及經(jīng)濟(jì)價(jià)值 等核心指標(biāo)展開，結(jié)合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（如ISO 9516、ASTM E1915）及國(guó)內(nèi)規(guī)范（如GB/T 17412、DZ/T 0130），為礦產(chǎn)勘探、選礦工藝及貿(mào)易定價(jià)提供科學(xué)依據(jù)。以下是系統(tǒng)化的檢測(cè)方案與操作指南：

一、核心檢測(cè)項(xiàng)目與方法

1. 化學(xué)成分分析

檢測(cè)目標(biāo)	方法	適用場(chǎng)景	檢測(cè)限（ppm）	標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
主量元素（Fe、Cu、Au）	X射線熒光光譜（XRF）	現(xiàn)場(chǎng)快速篩查，精度±1-5%	10-100	ISO 9516
痕量元素（Ag、Pt、REEs）	ICP-MS	實(shí)驗(yàn)室高精度定量，精度±0.1%	0.01-1	GB/T 14506.30
貴金屬火試金法	火法熔煉+ICP-OES	金、鉑族元素精準(zhǔn)定量	0.1-10	ASTM E1335

2. 礦物組成鑒定

方法	原理	分辨率	適用礦物
X射線衍射（XRD）	礦物晶體結(jié)構(gòu)分析	0.01°（2θ角）	石英、長(zhǎng)石、黏土礦物
掃描電鏡-能譜（SEM-EDS）	微區(qū)形貌與元素分布	1μm（空間）	硫化物、氧化物包裹體
紅外光譜（FTIR）	官能團(tuán)振動(dòng)特征分析	4cm?¹	碳酸鹽、硅酸鹽類

3. 物理性質(zhì)測(cè)試

參數(shù)	方法	設(shè)備	標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
硬度（莫氏）	劃痕法對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)礦物	莫氏硬度計(jì)	GB/T 17412.1
密度（比重）	比重瓶法/浮力法	電子比重天平（精度0.001g/cm³）	ASTM D854
磁性	磁選分離+磁化率測(cè)量	高斯計(jì)（精度±1%）	ISO 8833

二、檢測(cè)流程（以銅礦石為例）

采樣與制樣
- 采樣方法：網(wǎng)格法或隨機(jī)取樣，單樣重量≥5kg（GB/T 17766）。
- 破碎縮分：顎式破碎機(jī)→對(duì)輥破碎至-2mm→四分法縮分至200g。
- 研磨：振動(dòng)磨粉機(jī)→過(guò)200目篩（75μm），干燥（105℃×2h）。
XRF快速分析
- 儀器校準(zhǔn)：銅礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（GBW07289）建立工作曲線。
- 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)：Cu含量1.8%（誤差±0.2%），F(xiàn)e含量12.5%。
實(shí)驗(yàn)室精密檢測(cè)（ICP-MS）
- 消解：王水（HCl:HNO?=3:1）微波消解（200℃×30min）。
- 檢測(cè)：Au 0.85g/t，Ag 12.3g/t，Pt未檢出（＜0.01g/t）。
XRD礦物鑒定
- 結(jié)果：主要礦物為黃銅礦（CuFeS?，PDF#37-0471），次生礦物孔雀石（Cu?CO?(OH)?）。
可選：可選性試驗(yàn)
- 浮選試驗(yàn)：磨礦細(xì)度-200目占85%，丁基黃藥用量100g/t，銅回收率89%。

三、國(guó)際與國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)參考

檢測(cè)項(xiàng)目	國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)	中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)	核心指標(biāo)
XRF分析	ISO 9516	GB/T 17412.2	主量元素誤差≤±5%
火試金法	ASTM E1335	GB/T 20899.1	Au檢測(cè)限0.01g/t
XRD鑒定	ICDD PDF數(shù)據(jù)庫(kù)	DZ/T 0130.4	匹配度≥90%（Jade軟件）
浮選試驗(yàn)	ISO 14851	GB/T 15924	回收率≥85%（銅精礦）

四、檢測(cè)設(shè)備選型

設(shè)備類型	推薦型號(hào)	關(guān)鍵參數(shù)
手持XRF	Olympus Vanta系列	元素范圍Mg-U，檢測(cè)限10ppm
ICP-MS	Agilent 7900	質(zhì)量范圍2-270amu，檢出限0.01ppb
XRD系統(tǒng)	PANalytical X'Pert³ MRD	角度精度±0.0001°，2θ范圍0-160°
微波消解儀	CEM Mars 6	溫度控制±1℃，壓力≥800psi

五、數(shù)據(jù)解讀與應(yīng)用

資源量估算：
- 塊段法：基于Cu品位1.8%、礦體體積100萬(wàn)m³、密度3.0t/m³，銅金屬量=1.8%×100萬(wàn)×3.0=5.4萬(wàn)噸。
選礦工藝設(shè)計(jì)：
- 浮選流程：粗選（pH 9-10，丁黃藥+松醇油）→精選（石灰調(diào)漿）→銅精礦品位≥25%。
貿(mào)易定價(jià)：
- 計(jì)價(jià)元素：Cu≥1.5%按LME價(jià)格扣減加工費(fèi)（TC/RC），貴金屬（Au、Ag）按含量加價(jià)。

六、常見問題與解決方案

問題	原因分析	優(yōu)化策略
XRF結(jié)果偏差大	樣品不均勻或表面粗糙	細(xì)磨至-200目，壓片制樣（壓力≥20噸）
ICP-MS基體效應(yīng)	高鹽分或未完全消解	優(yōu)化消解程序（增加HF酸），內(nèi)標(biāo)法校正（In、Rh）
XRD匹配度低	非晶質(zhì)或混合物相干擾	結(jié)合SEM-EDS驗(yàn)證，使用全譜擬合（Rietveld）
浮選回收率不足	磨礦細(xì)度不足或藥劑配比不當(dāng)	調(diào)整磨礦時(shí)間（-200目≥90%），復(fù)配捕收劑（Z-200）

七、創(chuàng)新技術(shù)與發(fā)展趨勢(shì)

便攜式LIBS：
- 優(yōu)勢(shì)：無(wú)需制樣，秒級(jí)檢測(cè)（如SciAps Z-300），Li、Be等輕元素分析。
無(wú)人機(jī)勘探：
- 多光譜成像：識(shí)別蝕變帶（如高嶺土、褐鐵礦），圈定靶區(qū)。
AI礦物識(shí)別：
- 深度學(xué)習(xí)：基于SEM圖像自動(dòng)分類黃銅礦、黃鐵礦（準(zhǔn)確率≥95%）。

通過(guò)系統(tǒng)化檢測(cè)與數(shù)據(jù)整合，礦石資源開發(fā)可顯著提升效率與經(jīng)濟(jì)效益。建議企業(yè)建立 ISO 17025認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室，結(jié)合 GIS數(shù)據(jù)庫(kù) 管理礦區(qū)數(shù)據(jù)，并針對(duì)低品位礦、尾礦開展 綜合利用技術(shù)（如生物浸出、選冶聯(lián)合）。貿(mào)易環(huán)節(jié)需嚴(yán)格遵循 CRIRSCO報(bào)告規(guī)范（如JORC、NI43-101），確保資源量/儲(chǔ)量數(shù)據(jù)合規(guī)可信。