耐電暈性測(cè)試
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-25 17:03:18 更新時(shí)間:2025-03-24 17:03:27
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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耐電暈性(Corona Resistance) 指絕緣材料在局部放電(電暈放電)作用下抵抗劣化的能力,是評(píng)估高壓電氣設(shè)備絕緣材料(如電機(jī)繞組、電纜、電子元件封裝材料)壽命的關(guān)鍵指標(biāo)。
標(biāo)準(zhǔn) | 適用范圍 | 核心要求 |
---|---|---|
IEC 60243-3 | 高頻高壓下固體絕緣材料耐電暈性測(cè)試 | 測(cè)試電壓頻率≥1kHz,記錄材料失效時(shí)間(小時(shí)) |
ASTM D2275 | 有機(jī)絕緣材料耐電暈老化測(cè)試(針-板電極法) | 以材料表面碳化或擊穿為失效判據(jù) |
GB/T 1408.3-2016 | 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)(等效IEC 60243) | 測(cè)試電壓梯度≥200V/μm,記錄電暈起始電壓和壽命 |
UL 1446 | 電機(jī)繞組絕緣系統(tǒng)耐電暈等級(jí)評(píng)價(jià) | 按耐電暈壽命分為Class N(普通)、H(高耐電暈)等級(jí) |
設(shè)備組件 | 功能要求 |
---|---|
高頻高壓電源 | 輸出頻率1kHz-20kHz,電壓0-20kV可調(diào),紋波≤5% |
電極系統(tǒng) | 針-板電極(ASTM D2275)或平行電極(IEC 60243) |
局部放電檢測(cè)儀 | 靈敏度≤1pC,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)放電量及放電次數(shù) |
環(huán)境控制箱 | 溫度范圍20-150℃,濕度可控(通常≤40%RH) |
數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng) | 記錄電壓、電流、放電量及材料失效時(shí)間 |
樣品制備
電極安裝
測(cè)試條件設(shè)置
測(cè)試執(zhí)行
數(shù)據(jù)分析
參數(shù) | 意義 | 典型值示例 |
---|---|---|
電暈起始電壓(PDIV) | 材料開(kāi)始產(chǎn)生穩(wěn)定電暈放電的最低電壓 | 聚酰亞胺薄膜:≥5kV/mm |
耐電暈壽命 | 材料在額定電壓下持續(xù)耐受電暈放電的時(shí)間 | 環(huán)氧樹(shù)脂:50-100h;納米改性材料:≥500h |
放電量(pC) | 單次放電的能量,反映材料劣化速率 | ≤10pC(優(yōu)質(zhì)材料);>100pC(失效風(fēng)險(xiǎn)高) |
材料優(yōu)化
工藝控制
測(cè)試驗(yàn)證
問(wèn)題 | 原因分析 | 解決方案 |
---|---|---|
電暈壽命遠(yuǎn)低于預(yù)期 | 材料內(nèi)部存在孔隙或雜質(zhì) | 優(yōu)化材料混合工藝,增加真空脫氣步驟 |
PDIV波動(dòng)大 | 電極接觸不良或表面污染 | 定期拋光電極,采用惰性氣體(如N?)保護(hù)測(cè)試環(huán)境 |
放電量持續(xù)上升 | 材料化學(xué)結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定 | 改用耐氧化聚合物(如PEEK或PTFE基復(fù)合材料) |
案例名稱(chēng):高壓電機(jī)繞組絕緣材料升級(jí)
通過(guò)系統(tǒng)性測(cè)試與材料優(yōu)化,耐電暈性可顯著提升,為高壓電氣設(shè)備的長(zhǎng)壽命、高可靠性運(yùn)行提供保障。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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