漏電起痕測(cè)試
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-22 16:20:19 更新時(shí)間:2025-03-21 16:21:35
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
漏電起痕測(cè)試(Tracking Resistance Test)是評(píng)估絕緣材料在電場(chǎng)和污染環(huán)境下抗電痕形成能力的重要方法,主要用于電氣設(shè)備、電子元件及絕緣材料的質(zhì)量控制。其檢測(cè)需圍繞 起痕電壓、失效時(shí)間、材料耐漏電性 等核心指標(biāo)展開(kāi),符合 IEC 60112:2020、GB/T 4207-2022、ASTM D3638 等標(biāo)準(zhǔn)要求。以下是測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)化流程與技術(shù)要點(diǎn):
檢測(cè)類(lèi)別 | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) | 典型限值/要求 |
---|---|---|---|
耐電痕化指數(shù) | 相比電痕化指數(shù)(CTI) | IEC 60112:2020 | CTI≥250V(絕緣材料Ⅰ類(lèi)),CTI≥175V(Ⅱ類(lèi)) |
最大起痕電壓 | 材料耐受的最高電壓(不失效) | UL 746A | 商用塑料CTI≥100V,高溫材料CTI≥600V |
失效時(shí)間 | 滴液至材料失效的時(shí)間 | ASTM D3638-12 | 失效時(shí)間≥60秒(600V,50滴液) |
起痕深度 | 電痕燒蝕深度(顯微測(cè)量) | GB/T 4207-2022 | 深度≤2.5mm(CTI測(cè)試后) |
安全判定 | 是否起火或持續(xù)燃燒 | IEC 60695-11-20 | 無(wú)明火或自熄時(shí)間≤30秒 |
基本原理 在材料表面施加電壓,滴加導(dǎo)電污染液(如NH?Cl溶液),模擬潮濕污染環(huán)境下的電場(chǎng)作用,觀(guān)察是否形成導(dǎo)電碳化路徑(電痕),導(dǎo)致絕緣失效。
測(cè)試設(shè)備
電解液配制
樣品制備
測(cè)試步驟
判定規(guī)則
問(wèn)題現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
---|---|---|
CTI值偏低 | 材料親水性強(qiáng)或填料不足 | 添加無(wú)機(jī)填料(如Al(OH)?),提高疏水性(硅烷偶聯(lián)劑處理) |
滴液擴(kuò)散不均 | 表面粗糙或污染液濃度偏差 | 拋光樣品表面(Ra≤0.8μm),校準(zhǔn)電解液電阻率(25℃) |
電極打火異常 | 電極氧化或接觸不良 | 清潔鉑金電極(稀鹽酸浸泡),確保壓力0.5N±0.1N |
測(cè)試中起火 | 材料阻燃性差 | 添加阻燃劑(如十溴二苯醚),優(yōu)化配方(磷氮系阻燃體系) |
碳化痕跡不連續(xù) | 材料局部導(dǎo)電性差異 | 改善材料均勻性(混煉工藝優(yōu)化),避免局部結(jié)晶或孔隙 |
電子電器外殼(IEC 60112):
汽車(chē)高壓部件(LV 124-2):
光伏材料(UL 61730):
漏電起痕測(cè)試需以 “精準(zhǔn)控壓、環(huán)境模擬、失效分析” 為核心:
建議方案:
通過(guò)科學(xué)測(cè)試與材料改進(jìn),可顯著提升絕緣部件的耐漏電性能,為電氣設(shè)備的安全運(yùn)行提供關(guān)鍵保障。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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