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屏蔽線檢測

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發(fā)布時間：2025-03-22 10:49:12 更新時間：2025-03-21 10:50:32

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作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

屏蔽線（如同軸電纜、屏蔽雙絞線等）的檢測需圍繞 屏蔽效能、導(dǎo)體性能、絕緣防護、結(jié)構(gòu)完整性 等核心指標展開，確保其在電磁干擾（EMI）環(huán)境下的信號傳輸穩(wěn)定性。以下是屏蔽線檢測的關(guān)鍵項目與技術(shù)要點：

屏蔽層覆蓋率與密度
- 目視檢查：屏蔽層（鋁箔/編織網(wǎng)）應(yīng)連續(xù)覆蓋，無斷裂或縫隙（覆蓋率≥95%）；
- 編織密度：編織屏蔽覆蓋率≥85%（顯微鏡測量，ASTM B258）。
導(dǎo)體與絕緣層
- 導(dǎo)體直徑：符合標稱值±5%（千分尺測量，IEC 60228）；
- 絕緣厚度：標稱值±10%（切片投影儀，GB/T 2951.11）。

屏蔽層導(dǎo)通性
- 導(dǎo)通電阻：屏蔽層兩端電阻≤50mΩ/m（四線制微歐計，GB/T 3048.4）；
- 屏蔽接地連續(xù)性：萬用表檢測屏蔽層與接地點電阻≤1Ω（IEC 61196-1）。
絕緣電阻與耐壓
- 絕緣電阻：≥100MΩ·km（500V DC，GB/T 3048.6）；
- 耐壓測試：AC 3kV/1min或DC 5kV/1min無擊穿（UL 444）。

轉(zhuǎn)移阻抗（Z<sub>t</sub>）
- 測試頻率：1MHz~1GHz（三同軸法，IEC 62153-4-3）；
- 限值：高頻（1GHz）Z<sub>t</sub>≤100mΩ/m（高屏蔽效能電纜）。
屏蔽衰減（SE）
- 頻段掃描：30MHz~6GHz（GTEM小室法，GB/T 17737.1）；
- 典型值：
  - 編織屏蔽：≥60dB @ 1GHz；
  - 鋁箔+編織復(fù)合屏蔽：≥90dB @ 1GHz。

特性阻抗
- 時域反射計（TDR）：阻抗偏差≤±5%（如75Ω同軸線實測71.25~78.75Ω，IEC 61196-1）。
回波損耗（RL）與插入損耗（IL）
- 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）：
  - RL≥20dB（100MHz~1GHz，CAT6A屏蔽線）；
  - IL≤0.2dB/m @ 250MHz（GB/T 18015.3）。

彎曲與扭轉(zhuǎn)試驗
- 彎曲次數(shù)：500次彎曲（半徑≥8D）后屏蔽層無斷裂（IEC 61196-1）；
- 扭轉(zhuǎn)角度：±180°/m，10次循環(huán)后導(dǎo)通電阻變化≤10%。
環(huán)境耐受性
- 高溫老化：85℃×168h，屏蔽效能下降≤3dB（IEC 60811-2-1）；
- 鹽霧測試：5% NaCl噴霧48h，屏蔽層無銹蝕（GB/T 2423.17）。

檢測項目	國際標準	國內(nèi)標準	典型限值
轉(zhuǎn)移阻抗（1GHz）	IEC 62153-4-3	GB/T 17737.1	≤100mΩ/m
屏蔽衰減（1GHz）	EN 50289-1-6	SJ/T 11442	≥90dB
導(dǎo)體電阻（20℃）	IEC 60228	GB/T 3953	≤0.18Ω/km（24AWG銅）
耐壓測試	UL 444	GB/T 3048.8	AC 3kV/1min無擊穿

問題現(xiàn)象	可能原因	解決方案
高頻屏蔽效能不足	編織密度低或鋁箔接縫不連續(xù)	增加編織層覆蓋率（≥90%），鋁箔重疊≥20%
屏蔽層氧化導(dǎo)致高電阻	銅編織網(wǎng)未鍍錫或存儲環(huán)境潮濕	鍍錫處理（Sn≥3μm），控制濕度≤60%RH
絕緣層破損	擠出工藝缺陷或機械損傷	優(yōu)化模具設(shè)計（減少應(yīng)力集中），增加護套層
信號回波損耗超標	阻抗失配或接頭焊接不良	校準連接器阻抗（如BNC頭75Ω），采用激光焊接

來料檢驗
- 屏蔽層材質(zhì)光譜分析（銅/鋁純度≥99.9%）；
- 絕緣材料介電常數(shù)測試（≤2.3 @1MHz）。
生產(chǎn)過程控制
- 在線監(jiān)測：TDR實時檢測阻抗偏差（±3%內(nèi)報警）；
- 屏蔽層覆蓋率：X光成像檢查鋁箔/編織層連續(xù)性。
成品認證
- 第三方檢測：通過CMA/CNAS實驗室出具IEC/UL/GB報告；
- 應(yīng)用驗證：EMC暗室測試（輻射發(fā)射/抗擾度，CISPR 32）。