石墨烯檢測
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-17 17:01:49 更新時(shí)間:2025-03-16 17:05:10
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

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石墨烯因其獨(dú)特的二維結(jié)構(gòu)及優(yōu)異的電學(xué)、力學(xué)和熱學(xué)性能,在電子器件、復(fù)合材料、能源存儲(chǔ)等領(lǐng)域備受關(guān)注。其檢測需圍繞結(jié)構(gòu)特征、純度、缺陷控制及功能性能展開,確保符合科研與工業(yè)應(yīng)用需求(如ISO/TS 21356、ASTM D8325)。以下是核心檢測內(nèi)容與操作指南:
檢測項(xiàng)目 | 設(shè)備/方法 | 標(biāo)準(zhǔn)參考 |
---|---|---|
層數(shù)與缺陷 | 拉曼光譜、AFM、TEM | ISO/TS 21356、ASTM D8325 |
雜質(zhì)分析 | XPS、ICP-MS | GB/T 30544.3、ISO 19749 |
電學(xué)性能 | 四探針儀、霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng) | IEC 62607-3-1、ISO 21780 |
分散性 | DLS、Zeta電位儀 | ISO 22412、ASTM E2865 |
問題 | 原因分析 | 解決方案 |
---|---|---|
層數(shù)判定不準(zhǔn) | 拉曼峰受基底或雜質(zhì)干擾 | 結(jié)合AFM厚度測量與TEM觀察,使用Si/SiO?基底。 |
電導(dǎo)率低 | 氧化石墨烯還原不徹底或缺陷多 | 優(yōu)化還原工藝(高溫退火、化學(xué)還原),減少含氧基團(tuán)。 |
分散液團(tuán)聚 | 表面改性不足或溶劑極性不匹配 | 添加表面活性劑(如SDBS),改用NMP或DMF分散。 |
金屬雜質(zhì)超標(biāo) | CVD生長催化劑殘留(如Cu、Ni) | 加強(qiáng)酸洗(FeCl?/HCl),或采用轉(zhuǎn)移工藝。 |
石墨烯檢測需以多維度聯(lián)用技術(shù)為核心,結(jié)合結(jié)構(gòu)、成分與功能性能驗(yàn)證,確保材料滿足應(yīng)用場景需求??蒲信c產(chǎn)業(yè)界應(yīng)優(yōu)先建立標(biāo)準(zhǔn)化檢測流程(如層數(shù)、缺陷率、電導(dǎo)率),并通過第三方認(rèn)證(如CNAS、NPL)提升數(shù)據(jù)可信度。未來,隨著石墨烯產(chǎn)業(yè)化加速,檢測技術(shù)將向高通量、智能化(AI圖像分析)及應(yīng)用場景定制化方向深化,推動(dòng)這一“神奇材料”從實(shí)驗(yàn)室走向規(guī)模化應(yīng)用。
證書編號(hào):241520345370
證書編號(hào):CNAS L22006
證書編號(hào):ISO9001-2024001
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