冷等離子體活性物質(zhì)特性檢測
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發(fā)布時間:2025-03-12 09:48:00 更新時間:2025-03-11 09:49:32
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作者:中科光析科學技術(shù)研究所檢測中心

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冷等離子體(非熱等離子體)因富含活性粒子(如自由基、激發(fā)態(tài)分子、離子、紫外光子等)而廣泛應用于材料改性、殺菌消毒、污染物降解等領(lǐng)域。其特性檢測需圍繞 活性粒子種類、濃度、能量分布及作用效果 進行系統(tǒng)化分析,以下是關(guān)鍵檢測方法及標準化流程:
檢測指標 | 檢測方法 | 技術(shù)原理 | 適用場景 |
---|---|---|---|
自由基(ROS/RNS) | 電子自旋共振(ESR) | 捕獲自由基(如·OH、O??)并與自旋探針反應 | 氣/液相自由基定量 |
激發(fā)態(tài)分子 | 光學發(fā)射光譜(OES) | 分析等離子體發(fā)光譜線(如N?*、O³P) | 活性粒子種類與能量狀態(tài)識別 |
離子特性 | 質(zhì)譜法(MS) | 電離后按質(zhì)荷比(m/z)分離離子(如O?、N??) | 離子種類與濃度檢測 |
紫外輻射 | 紫外-可見光譜儀(UV-Vis) | 測量200~400nm波段光子通量與能量分布 | 光化學作用評估 |
表面改性效果 | X射線光電子能譜(XPS)、原子力顯微鏡(AFM) | 分析表面化學組成與形貌變化 | 材料親水性/粗糙度表征 |
設備 | 推薦型號 | 關(guān)鍵參數(shù) |
---|---|---|
ESR譜儀 | Bruker EMX Plus | 頻率9.8 GHz,靈敏度≥5×10¹? spins/G√Hz |
OES光譜儀 | Ocean Insight HR4000CG | 分辨率0.1nm,波長范圍200-1100nm |
質(zhì)譜儀 | Hiden HPR-60 | 質(zhì)量范圍1-300 amu,檢測限≤1ppm |
UV-Vis光譜儀 | Agilent Cary 5000 | 波長精度±0.1nm,積分球附件支持絕對輻射測量 |
XPS分析儀 | Thermo Scientific K-Alpha | 空間分辨率≤30μm,能量分辨率0.4eV |
現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
---|---|---|
ESR信號弱 | 自由基壽命短或捕獲效率低 | 優(yōu)化捕獲劑濃度,縮短采樣延遲時間 |
OES譜線重疊 | 多物種發(fā)射譜線干擾 | 使用高分辨率光譜儀,結(jié)合化學計量模型解卷積 |
質(zhì)譜本底噪聲高 | 真空系統(tǒng)泄漏或離子源污染 | 檢查密封性,清潔離子源,使用高純度載氣 |
XPS碳污染峰 | 樣品表面吸附有機物 | 等離子體預處理樣品,或采用氬離子濺射清潔表面 |
通過系統(tǒng)化檢測與分析,可精準調(diào)控冷等離子體活性物質(zhì)的生成與作用效果,為不同應用場景提供可靠數(shù)據(jù)支持。建議結(jié)合實時監(jiān)測與反應動力學模型,優(yōu)化等離子體工藝參數(shù)(如功率、氣體組成、處理時間),實現(xiàn)高效能轉(zhuǎn)化。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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