同位素豐度檢測
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發(fā)布時(shí)間:2025-03-06 16:19:16 更新時(shí)間:2025-03-05 16:19:54
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心
同位素豐度檢測是通過測定元素中不同同位素(如¹²C/¹³C、²³?U/²³?U、¹?O/¹?O等)的相對含量,揭示 物質(zhì)來源、反應(yīng)機(jī)理、年代信息 及 核能應(yīng)用安全性 的核心手段,廣泛應(yīng)用于 核能工業(yè)、地質(zhì)年代學(xué)、環(huán)境科學(xué)、生命科學(xué) 及 司法鑒定 等領(lǐng)域。檢測需符合以下標(biāo)準(zhǔn):
方法 | 原理 | 適用同位素 | 精度(δ值) | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|---|
TIMS(熱電離質(zhì)譜) | 高溫電離樣品→磁場分離同位素 | 鈾(²³?U/²³?U)、鉛(²??Pb/²??Pb) | ±0.005% | Thermo Fisher TRITON Plus |
MC-ICP-MS(多接收電感耦合等離子體質(zhì)譜) | 等離子體電離→多接收器同步檢測 | 鍶(??Sr/??Sr)、釹(¹?³Nd/¹??Nd) | ±0.001‰(δ¹³C) | Nu Instruments Sapphire |
IRMS(同位素比值質(zhì)譜) | 氣體轉(zhuǎn)化(如CO?、N?)→靜電場分離 | 碳(¹³C/¹²C)、氮(¹?N/¹?N) | ±0.01‰ | Isoprime precisION |
方法 | 原理 | 適用同位素 | 精度 | 儀器設(shè)備 |
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LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜) | 激光激發(fā)樣品→分析特征譜線 | 鋰(?Li/?Li)、硼(¹?B/¹¹B) | ±0.1% | TSI ChemReveal |
CRDS(腔衰蕩光譜) | 激光在光學(xué)腔內(nèi)多次反射→測量吸收衰減 | 水(H?¹?O/H?¹?O)、二氧化碳(¹³CO?) | ±0.05‰ | Picarro G2131-i |
方法 | 原理 | 適用同位素 | 精度 | 儀器設(shè)備 |
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γ能譜法 | 測量特征γ射線能量與強(qiáng)度 | ¹³?Cs、²¹?Pb | ±5%(活度) | ORTEC HPGe GEM-Series |
中子活化分析(NAA) | 中子轟擊→生成放射性核素→γ能譜檢測 | 金(¹??Au)、砷(??As) | ±1-3% | 核反應(yīng)堆+高純鍺探測器 |
問題現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
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質(zhì)量歧視效應(yīng)顯著 | 儀器電離效率差異或分餾未校正 | 使用雙稀釋劑法(如²³³U-²³?U)校正,優(yōu)化離子源參數(shù)(發(fā)射電流、聚焦電壓) |
記憶效應(yīng)干擾 | 前一樣品殘留污染 | 增加清洗流程(5% HNO?超聲清洗離子源),延長背景測量時(shí)間 |
同質(zhì)異位素干擾 | ²³?U¹?O?干擾²³?U?信號 | 采用碰撞反應(yīng)池(He/H?模式)或高分辨質(zhì)譜(分辨率≥10,000)消除干擾峰 |
樣品量不足 | 低豐度同位素(如²³?U) | 預(yù)富集(電沉積或微柱萃?。┗蛱岣唠婋x效率(使用樹脂珠加載技術(shù)) |
設(shè)備類型 | 功能與要求 | 推薦型號 |
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多接收熱電離質(zhì)譜儀 | 精度≤0.001%,支持靜態(tài)多接收模式 | Thermo Fisher TRITON Plus |
高分辨ICP-MS | 分辨率≥10,000,消除同質(zhì)異位素干擾 | Thermo Fisher Element XR |
穩(wěn)定同位素比值質(zhì)譜儀 | δ¹³C精度±0.01‰,支持連續(xù)流分析 | Sercon 20-22 |
檢測項(xiàng)目 | ASTM C1625(國際) | GB/T 13701(中國) |
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鈾豐度測量精度 | ±0.05%(²³?U) | ±0.1%(等同ASTM) |
標(biāo)樣要求 | CRM 112a(鈾標(biāo)樣) | GBW 04231(鈾同位素標(biāo)樣) |
數(shù)據(jù)格式 | 原子百分比(%) | 原子百分比(%) |
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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