紅外光譜檢測
1對1客服專屬服務(wù),免費制定檢測方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時間:2025-03-06 14:31:01 更新時間:2025-03-05 14:33:32
點擊:0
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測中心

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紅外光譜檢測是通過分析物質(zhì)對紅外光的特征吸收,獲取其 分子結(jié)構(gòu)信息、官能團組成 及 化學(xué)鍵類型 的核心手段,廣泛應(yīng)用于 材料科學(xué)、制藥、環(huán)境監(jiān)測 及 食品安全 等領(lǐng)域。檢測需符合以下標(biāo)準(zhǔn):
檢測項目 | 檢測方法 | 技術(shù)要點 | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|
官能團識別 | 透射法/ATR法(衰減全反射) | 特征吸收峰匹配(如C=O≈1700cm?¹) | FTIR光譜儀(Thermo Nicolet iS50) |
未知物比對 | 譜庫檢索(Sadler/Hummel庫) | 匹配度≥90%判定為同一物質(zhì) | 分析軟件(OMNIC™) |
多組分分析 | 二階導(dǎo)數(shù)譜或差譜法 | 消除背景干擾,分離重疊峰 | 高分辨率FTIR(Bruker Vertex 80v) |
檢測項目 | 檢測方法 | 技術(shù)要點 | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|
峰高/峰面積法 | 基線校正+峰積分(GB/T 6040) | 選擇非干擾特征峰(如羰基峰) | 積分球附件(Harrick MVP) |
多元校正模型 | PLS(偏最小二乘法)建模 | 需≥30個標(biāo)準(zhǔn)樣品,R²≥0.99 | 化學(xué)計量學(xué)軟件(Unscrambler) |
薄膜厚度測定 | 干涉條紋法(ASTM E573) | 計算厚度公式:d = Δm/(2n(ν?-ν?)) | 紅外顯微鏡(Agilent 620) |
樣品類型 | 前處理方法 | 注意事項 |
---|---|---|
固體粉末 | KBr壓片法(1%樣品+200mg KBr) | 研磨至粒徑≤2μm,避免吸濕 |
液體樣品 | 液膜法(NaCl窗片) | 控制膜厚(5-15μm),避免氣泡 |
高分子材料 | ATR法(直接壓附金剛石晶體) | 確保樣品與晶體緊密接觸 |
氣體樣品 | 氣體池(光程10cm,真空脫氣) | 濃度≥100ppm,避免水蒸氣干擾 |
問題現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
---|---|---|
特征峰缺失或偏移 | 樣品濃度過低或結(jié)晶度差異 | 增加樣品量,改用ATR法或調(diào)整研磨工藝 |
基線漂移 | 光散射或樣品不均勻 | 采用Kubelka-Munk轉(zhuǎn)換(固體粉末),優(yōu)化壓片均勻度 |
水峰干擾(~3400cm?¹) | 環(huán)境濕度高或樣品吸水 | 干燥樣品(真空烘箱),實驗室內(nèi)使用除濕機(濕度≤40%) |
ATR信號弱 | 接觸壓力不足或晶體污染 | 增加壓緊力(壓力≥80N),清潔晶體表面(異丙醇擦拭) |
設(shè)備類型 | 功能與要求 | 推薦型號 |
---|---|---|
傅里葉變換紅外光譜儀 | 分辨率≤0.4cm?¹,信噪比≥50,000:1 | Thermo Scientific Nicolet iS50 |
ATR附件 | 金剛石/ZnSe晶體,壓力可調(diào) | Pike GladiATR™ |
紅外顯微鏡 | 空間分辨率≤10μm,透射/反射模式 | Agilent 620 FTIR Microscope |
項目 | ASTM E1252(國際) | GB/T 6040(中國) |
---|---|---|
分辨率要求 | ≤4cm?¹ | ≤4cm?¹(等同ASTM) |
譜庫匹配標(biāo)準(zhǔn) | 匹配度≥85% | 匹配度≥90% |
定量分析驗證 | 需RSD≤5% | 需RSD≤3%(藥典要求) |
通過系統(tǒng)性紅外光譜檢測,可精準(zhǔn)解析材料 分子指紋信息,建議實驗室建立 “樣品-儀器-數(shù)據(jù)”全流程質(zhì)控體系,并融合 智能化算法 與 聯(lián)用技術(shù) 提升分析效率與深度。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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