重晶石粉檢測(cè)
1對(duì)1客服專(zhuān)屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測(cè)方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時(shí)間:2025-03-06 09:55:46 更新時(shí)間:2025-03-05 09:57:37
點(diǎn)擊:0
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

1對(duì)1客服專(zhuān)屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測(cè)方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時(shí)間:2025-03-06 09:55:46 更新時(shí)間:2025-03-05 09:57:37
點(diǎn)擊:0
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
重晶石粉(主要成分為硫酸鋇,BaSO?)是石油鉆井、化工、涂料、醫(yī)療等領(lǐng)域的關(guān)鍵原料,其 純度、 粒度分布、 密度 及 雜質(zhì)含量 直接影響產(chǎn)品性能。檢測(cè)需確保符合以下標(biāo)準(zhǔn):
檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)方法 | 判定標(biāo)準(zhǔn) | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|
BaSO?含量 | X射線(xiàn)熒光光譜(XRF,GB/T 14506.1) | 鉆井級(jí)≥90%,涂料級(jí)≥98% | XRF光譜儀(Thermo Niton XL3t) |
SiO?、Fe?O?等雜質(zhì) | 化學(xué)滴定法(GB/T 2899) | SiO?≤2%,F(xiàn)e?O?≤0.5%(鉆井級(jí)) | 分光光度計(jì)(PerkinElmer Lambda 365) |
可溶性鹽分 | 水溶物電導(dǎo)率法(ISO 787) | 水溶物≤0.3%(涂料級(jí)) | 電導(dǎo)率儀(Mettler Toledo SevenExcellence) |
檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)方法 | 判定標(biāo)準(zhǔn) | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|
密度(比重) | 比重瓶法(GB/T 5005) | 鉆井級(jí)≥4.20g/cm³,涂料級(jí)≥4.30g/cm³ | 比重瓶(Brand 25mL)+分析天平 |
粒度分布 | 激光衍射法(ISO 13320) | D50≤10μm(涂料級(jí)),D90≤75μm(鉆井級(jí)) | 激光粒度儀(Malvern Mastersizer 3000) |
白度 | 分光光度法(GB/T 5950) | 涂料級(jí)白度≥92%(藍(lán)光白度) | 白度計(jì)(Elrepho 470) |
檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)方法 | 判定標(biāo)準(zhǔn) | 儀器設(shè)備 |
---|---|---|---|
重金屬(Pb、Cd) | ICP-MS法(GB 5085.3) | Pb≤100mg/kg,Cd≤50mg/kg | ICP-MS(Agilent 7900) |
放射性核素 | γ能譜分析(GB 6566) | 內(nèi)照射指數(shù)IRa≤1.0,外照射指數(shù)Iγ≤1.3 | 低本底γ譜儀(ORTEC HPGe) |
吸油量 | 刮板法(ISO 787-5) | 涂料級(jí)吸油量≤15g/100g | 吸油計(jì)(BYK-Gardner) |
問(wèn)題現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
---|---|---|
BaSO?含量不足 | 伴生礦物(方解石、石英)多 | 浮選工藝優(yōu)化(捕收劑十二胺用量↑10%),酸洗(5% HCl去除碳酸鹽) |
粒度分布不均 | 粉碎設(shè)備效率低或分級(jí)不精準(zhǔn) | 更換氣流粉碎機(jī)(分級(jí)輪轉(zhuǎn)速↑20%),增加旋風(fēng)分離器 |
白度不達(dá)標(biāo) | Fe?O?雜質(zhì)或有機(jī)質(zhì)污染 | 磁選除鐵(磁場(chǎng)強(qiáng)度≥1.2T),煅燒處理(800℃×2h去除有機(jī)質(zhì)) |
放射性超標(biāo) | 伴生鈾釷礦物 | 選礦剔除高放射性礦石,采購(gòu)低本底礦區(qū)原料(IRa≤0.5) |
設(shè)備類(lèi)型 | 功能與要求 | 推薦型號(hào) |
---|---|---|
X射線(xiàn)熒光光譜儀 | 元素分析范圍Na-U,精度±0.1% | Thermo Scientific ARL 9900 |
激光粒度分析儀 | 測(cè)量范圍0.01~3500μm,濕法/干法分散 | Malvern Mastersizer 3000 |
低本底γ能譜儀 | 能量分辨率≤2.0keV@1.33MeV | ORTEC GEM60P4-83 |
通過(guò)系統(tǒng)性檢測(cè),可確保重晶石粉在 不同應(yīng)用場(chǎng)景 下的 性能適配性,提升產(chǎn)品附加值并滿(mǎn)足國(guó)際市場(chǎng)準(zhǔn)入要求。建議企業(yè)建立 “礦山-加工-檢測(cè)”全流程質(zhì)控體系,并關(guān)注 高附加值應(yīng)用(如醫(yī)藥、電子級(jí)BaSO?)的檢測(cè)技術(shù)升級(jí)需求。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
版權(quán)所有:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所京ICP備15067471號(hào)-33免責(zé)聲明