建筑電氣用并聯(lián)有源電力濾波裝置溫升試驗(yàn)檢測(cè)

在建筑電氣系統(tǒng)中，并聯(lián)有源電力濾波裝置是抑制諧波、改善電能質(zhì)量的重要設(shè)備。其長(zhǎng)期運(yùn)行可靠性直接關(guān)系到整個(gè)配電網(wǎng)絡(luò)的安全和穩(wěn)定性。由于裝置在正常工作時(shí)內(nèi)部功率器件會(huì)產(chǎn)生熱量，若散熱設(shè)計(jì)不當(dāng)或環(huán)境條件惡劣，可能導(dǎo)致局部溫度過(guò)高，進(jìn)而引發(fā)元器件老化加速、性能下降甚至燒毀等嚴(yán)重故障。因此，溫升試驗(yàn)成為評(píng)價(jià)該裝置熱設(shè)計(jì)和散熱能力的關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目，確保其在額定負(fù)載及過(guò)載條件下，各關(guān)鍵部位的溫度升高不超過(guò)允許限值，從而保障裝置在建筑電氣環(huán)境中的持久、安全運(yùn)行。

檢測(cè)項(xiàng)目

溫升試驗(yàn)主要圍繞裝置在持續(xù)運(yùn)行狀態(tài)下的發(fā)熱情況進(jìn)行全面評(píng)估。核心檢測(cè)項(xiàng)目包括：功率開(kāi)關(guān)器件（如IGBT模塊）的結(jié)溫或殼溫升高測(cè)量、濾波電感的繞組溫升檢測(cè)、直流母線電容的表面溫度監(jiān)測(cè)、散熱器熱點(diǎn)溫度分布、以及控制電路板關(guān)鍵IC芯片的溫升情況。此外，還需考察裝置在不同負(fù)載率（如50%、100%、120%過(guò)載）下的溫升特性，評(píng)估其短期過(guò)載承受能力。環(huán)境溫度對(duì)溫升的影響也是重要檢測(cè)內(nèi)容，通常需在規(guī)定的環(huán)境溫度條件下進(jìn)行測(cè)試。

檢測(cè)儀器

進(jìn)行溫升試驗(yàn)需借助多種精密儀器以確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。主要儀器包括：多通道溫度數(shù)據(jù)采集儀，用于同步記錄各測(cè)點(diǎn)溫度變化；熱電偶或紅外熱像儀，前者通過(guò)接觸式測(cè)量功率器件殼溫和電感繞組溫度，后者可非接觸掃描散熱器及整機(jī)表面溫度分布；可編程交流電源與負(fù)載箱，模擬裝置在實(shí)際工作中的各種電流、電壓條件；功率分析儀，精確測(cè)量輸入輸出功率、諧波含量以計(jì)算損耗發(fā)熱；環(huán)境試驗(yàn)箱，提供穩(wěn)定可控的測(cè)試環(huán)境溫度。所有儀器均需定期校準(zhǔn)，保證測(cè)量精度。

檢測(cè)方法

溫升試驗(yàn)通常采用穩(wěn)態(tài)溫升法。首先，將裝置置于規(guī)定環(huán)境溫度下，在額定輸入電壓和額定負(fù)載電流條件下連續(xù)運(yùn)行，直至各測(cè)點(diǎn)溫度變化在1小時(shí)內(nèi)不超過(guò)1K，認(rèn)為達(dá)到熱平衡狀態(tài)。使用熱電偶緊密附著于各被測(cè)點(diǎn)（如IGBT模塊基板、電感繞組表面），通過(guò)數(shù)據(jù)采集儀記錄平衡后的溫升值。對(duì)于散熱器等大面積部件，可采用紅外熱像儀掃描獲取溫度分布圖，識(shí)別熱點(diǎn)區(qū)域。過(guò)載試驗(yàn)則在額定溫升測(cè)試后，短時(shí)間內(nèi)施加規(guī)定過(guò)載電流，監(jiān)測(cè)溫度上升速率及峰值。整個(gè)過(guò)程中，需實(shí)時(shí)記錄環(huán)境溫度、負(fù)載電流、各點(diǎn)溫度及時(shí)間參數(shù)，通過(guò)溫升曲線分析裝置的散熱性能與熱穩(wěn)定性。

檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)證書

CMA認(rèn)證

檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書

證書編號(hào)：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認(rèn)可

實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書

證書編號(hào)：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認(rèn)證

質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書

證書編號(hào)：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

關(guān)于我們

部分儀器

合作客戶