電路板離子污染測(cè)試是一項(xiàng)關(guān)鍵的質(zhì)量控制過(guò)程,用于檢測(cè)印刷電路板(PCB)表面殘留的離子污染物,這些污染物可能來(lái)源于制造過(guò)程中的助焊劑、清洗劑、人體汗液或其他環(huán)境因素。離子污染如果未徹底清除" />

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