關(guān)斷和轉(zhuǎn)換能力試驗(yàn)檢測是電力電子設(shè)備、半導(dǎo)體器件(如IGBT、MOSFET、晶閘管等)以及相關(guān)控制系統(tǒng)在研發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用過程中的關(guān)鍵測試環(huán)節(jié)。該檢測主要用于評估器件或系統(tǒng)在開關(guān)狀態(tài)轉(zhuǎn)換(如開通" />

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