使用壽命試驗后的最小關(guān)閉時間檢測是一項針對機械、電子或機電一體化產(chǎn)品在完成預(yù)設(shè)壽命周期測試后的關(guān)鍵性能評估項目。該檢測主要評估產(chǎn)品在經(jīng)歷長時間或高頻率使用后,其關(guān)閉功能的響應(yīng)時間和穩(wěn)定性是否仍" />

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