可焊性(僅適用于全浸焊的片式電阻器)檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2025-08-21 04:17:49 更新時(shí)間:2025-08-20 04:17:50
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,片式電阻器作為電子電路中不可或缺的基礎(chǔ)元件,其可靠性直接影響整機(jī)性能與壽命。特別是針對(duì)采用全浸焊工藝的片式電阻器,可焊性成為衡量其能否在" />
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發(fā)布時(shí)間:2025-08-21 04:17:49 更新時(shí)間:2025-08-20 04:17:50
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,片式電阻器作為電子電路中不可或缺的基礎(chǔ)元件,其可靠性直接影響整機(jī)性能與壽命。特別是針對(duì)采用全浸焊工藝的片式電阻器,可焊性成為衡量其能否在焊接過(guò)程中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、可靠連接的重要技術(shù)指標(biāo)。可焊性指的是元器件引腳或端子在規(guī)定條件下,能夠被焊料良好潤(rùn)濕并形成牢固、低電阻連接的能力。對(duì)于全浸焊工藝而言,電阻器需在熔融焊料中完全浸沒(méi),因此其端頭涂層、表面處理質(zhì)量、材料兼容性以及熱穩(wěn)定性等均對(duì)可焊性產(chǎn)生顯著影響。若可焊性不佳,容易導(dǎo)致虛焊、冷焊、焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良,進(jìn)而引發(fā)電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)間歇性故障或早期失效。因此,對(duì)全浸焊片式電阻器進(jìn)行科學(xué)、規(guī)范的可焊性檢測(cè),不僅是生產(chǎn)制造過(guò)程中的必要環(huán)節(jié),更是確保電子產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵保障。該檢測(cè)不僅涉及先進(jìn)的檢測(cè)儀器與標(biāo)準(zhǔn)化的檢測(cè)方法,還需遵循權(quán)威的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可比性。
可焊性檢測(cè)主要涵蓋以下幾個(gè)核心項(xiàng)目:潤(rùn)濕時(shí)間、潤(rùn)濕角、焊點(diǎn)外觀質(zhì)量、焊料附著面積、以及焊后電氣性能驗(yàn)證。潤(rùn)濕時(shí)間是指焊料在元器件端頭開(kāi)始接觸并均勻鋪展所需的時(shí)間,通常要求在3秒內(nèi)完成初步潤(rùn)濕,以保證焊接效率與可靠性。潤(rùn)濕角用于量化焊料與金屬表面之間的界面結(jié)合能力,理想潤(rùn)濕角應(yīng)小于30°,角度越小表示潤(rùn)濕性越好。焊點(diǎn)外觀質(zhì)量通過(guò)目視或顯微鏡觀察,檢查焊點(diǎn)是否光滑、無(wú)氣孔、裂紋或焊料堆積。焊料附著面積則通過(guò)圖像分析系統(tǒng)測(cè)量焊料覆蓋端頭的比例,要求覆蓋面積不低于85%。此外,焊后還需進(jìn)行電氣性能測(cè)試,如阻值變化率檢測(cè),確保焊接過(guò)程未對(duì)電阻器本身造成損傷或參數(shù)漂移。
為實(shí)現(xiàn)高精度、可重復(fù)的可焊性檢測(cè),通常采用以下專(zhuān)業(yè)儀器設(shè)備:
可焊性檢測(cè)通常遵循“浸入-潤(rùn)濕-冷卻-分析”流程,具體步驟如下:
為保證檢測(cè)結(jié)果的統(tǒng)一性和可比性,國(guó)際與國(guó)內(nèi)均制定了一系列權(quán)威檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),主要包括:
依照上述標(biāo)準(zhǔn),可焊性檢測(cè)需在規(guī)定條件下進(jìn)行,且檢測(cè)結(jié)果應(yīng)滿(mǎn)足“潤(rùn)濕時(shí)間≤3秒,潤(rùn)濕角≤30°,焊料覆蓋面積≥85%,無(wú)明顯缺陷,阻值變化≤±2%”等基本要求,方可判定為合格。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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