MRI相容性檢測
1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發(fā)布時間:2025-08-03 23:37:25 更新時間:2025-08-02 23:37:25
點擊:0
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
磁共振成像(MRI)相容性檢測
磁共振成像(MRI)作為一種強大的醫(yī)學診斷工具,依賴于超強靜磁場、快速切換的梯度磁場以及射頻(RF)脈沖的協同作用。然而,這種獨特而復雜的物理環(huán)境對引入其中的任何物體都構成了嚴峻挑戰(zhàn)。MRI" />
1對1客服專屬服務,免費制定檢測方案,15分鐘極速響應
發(fā)布時間:2025-08-03 23:37:25 更新時間:2025-08-02 23:37:25
點擊:0
作者:中科光析科學技術研究所檢測中心
磁共振成像(MRI)作為一種強大的醫(yī)學診斷工具,依賴于超強靜磁場、快速切換的梯度磁場以及射頻(RF)脈沖的協同作用。然而,這種獨特而復雜的物理環(huán)境對引入其中的任何物體都構成了嚴峻挑戰(zhàn)。MRI相容性檢測的核心目標,就是評估醫(yī)療器械、植入物、設備附件乃至患者攜帶物(如紋身墨水、化妝品)在MRI環(huán)境中的安全性(對患者和設備本身)和功能性(是否會影響成像質量或自身性能)。這項檢測至關重要,它直接關系到患者安全(如避免植入物移位、過熱導致的組織灼傷)和診斷結果的準確性(避免圖像偽影)。任何計劃在MRI環(huán)境中使用或可能意外進入MRI環(huán)境的物品,都必須經過嚴格且標準化的相容性評估。
MRI相容性檢測主要圍繞幾個關鍵的安全性和功能性維度展開:
1. 磁致位移力(Magnetic Field Projected Force)測試:評估被測物體在強靜磁場(B0)中受到的吸引力或排斥力的大小。過大的力可能導致物體不受控制地移動(拋射風險),對患者或設備造成傷害,或使植入物移位。
2. 磁致扭矩(Magnetic Field Torque)測試:評估被測物體在強靜磁場中試圖與磁場方向對齊(旋轉)的趨勢。過大的扭矩可能導致植入物扭轉或旋轉,同樣存在移位風險。
3. 射頻致熱(Radiofrequency-Induced Heating)測試:這是最關鍵的安全測試之一。評估被測物體(尤其是金屬或有導電回路的物體)在MRI掃描過程中RF脈沖作用下產生熱量的程度(溫升)。過高的溫升可能導致患者組織灼傷。
4. 偽影評估(MR Image Artifact Assessment):評估因被測物體(主要是金屬或磁性材料)的存在而對MRI圖像造成的干擾程度。偽影表現為圖像扭曲、信號缺失或信號增強,可能掩蓋病灶或產生誤導性信息。
進行上述檢測需要使用專門的儀器來模擬或測量MRI環(huán)境中的各種物理效應:
1. 高場強磁體系統(tǒng):用于提供高均勻度的靜磁場(B0),通常是1.5 T 和 3.0 T 這兩個臨床最常用的場強。這是進行磁力、扭矩測試的基礎環(huán)境。
2. 高斯計/特斯拉計:精確測量空間各點的磁場強度,用于確定測試位置和場強梯度。
3. 力傳感器/電子天平:測量被測物體在特定磁場梯度位置受到的磁致位移力。
4. 扭矩測試裝置:測量被測物體在均勻強磁場中為抵抗磁致扭矩所需的力矩。
5. 射頻發(fā)射與接收系統(tǒng):在實驗室環(huán)境(如傳輸線系統(tǒng)TEM Cell或介電填充鳥籠線圈)或MRI掃描儀內,施加特定吸收率(SAR)水平的RF能量。
6. 光纖溫度測量系統(tǒng):這是射頻致熱測試的核心設備。由于金屬熱電偶在強磁場和RF場中會產生干擾和自發(fā)熱,必須使用非金屬、非導電的光纖溫度探頭(如熒光式或光柵式)精確、無干擾地測量被測物體周圍組織的溫升。
7. MRI掃描儀:用于偽影評估。將被測物體置于標準MRI體模(如含硫酸銅或鎳鹽溶液)中,使用特定的掃描序列(如自旋回波SE或梯度回波GRE)進行成像,評估偽影的大小和特性。
8. 組織模擬液:具有特定電導率和介電常數的溶液,用于模擬人體組織在RF場中的電學特性,是進行體外射頻致熱測試的關鍵介質。
MRI相容性檢測遵循國際或國家標準化組織制定的嚴格測試程序:
1. 磁致位移力測試 (ASTM F2052):將樣品置于1.5T或3.0T MRI系統(tǒng)的空間特定點上(通常選擇預期最大場強梯度的位置,如磁體孔入口附近),使用力傳感器測量樣品受到的凈磁力。計算該力與其重力的比值。
2. 磁致扭矩測試 (ASTM F2213):將樣品懸掛在均勻強磁場區(qū)域(通常是磁體等中心點),使其與磁場方向成一定角度(通常45度)。測量樣品試圖轉向磁場方向時產生的最大扭矩。
3. 射頻致熱測試 (ASTM F2182): * 體外法(首選):將樣品按規(guī)定位置放置于充滿組織模擬液的標準化體模(如頭部或體部)中。將體模置于MRI掃描儀內(或實驗室模擬系統(tǒng)),施加以臨床最高允許全身SAR水平為基準的RF脈沖序列(通常為15分鐘)。使用光纖探頭在樣品周圍多個關鍵點持續(xù)監(jiān)測溫升。計算最大溫升值。 * 數值模擬法:對于非常復雜或無法進行物理測試的情況,可借助經過驗證的電磁場和熱力學仿真軟件進行模擬計算。
4. 偽影評估 (ASTM F2119):將樣品置于填充有MRI可見液體的標準體模中,置于MRI掃描儀等中心。使用特定的標準序列(如2D梯度回波GRE)進行掃描。測量圖像中樣品造成的信號空洞(偽影)的最大尺寸(通常是沿頻率編碼方向和層面選擇方向的長度)。
全球廣泛認可的MRI相容性測試標準主要來自ASTM International (美國材料與試驗協會) 和 ISO (國際標準化組織),部分與IEC (國際電工委員會) 標準協調:
1. ASTM F2052: Standard Test Method for Measurement of Magnetically Induced Displacement Force on Medical Devices in the Magnetic Resonance Environment. (測量醫(yī)療器械在磁共振環(huán)境中的磁致位移力的標準試驗方法)
2. ASTM F2213: Standard Test Method for Measurement of Magnetically Induced Torque on Medical Devices in the Magnetic Resonance Environment. (測量醫(yī)療器械在磁共振環(huán)境中的磁致扭矩的標準試驗方法)
3. ASTM F2182: Standard Test Method for Measurement of Radio Frequency Induced Heating On or Near Passive Implants During Magnetic Resonance Imaging. (測量磁共振成像期間被動植入物上或附近射頻致熱的標準試驗方法)
4. ASTM F2119: Standard Test Method for Evaluation of MR Image Artifacts from Passive Implants. (評估被動植入物導致MR圖像偽影的標準試驗方法)
5. ISO/TS 10974: Assessment of the safety of magnetic resonance imaging for patients with an active implantable medical device. (評估帶有有源植入式醫(yī)療器械的患者進行磁共振成像的安全性的技術規(guī)范) - 這是針對心臟起搏器、神經刺激器等有源植入物的更復雜、更全面的評估標準,涵蓋上述被動效應以及設備功能安全、感應電壓/電流、振動噪聲等多方面。
6. IEC 60601-2-33: Medical electrical equipment - Part 2-33: Particular requirements for the basic safety and essential performance of magnetic resonance equipment for medical diagnosis. (醫(yī)用電氣設備 第2-33部分:醫(yī)用診斷磁共振設備基本安全和基本性能的專用要求) - 該標準規(guī)定了MRI設備本身的安全要求,其中包含了對MRI環(huán)境中使用的附件和患者攜帶物的安全性要求和測試指南。
MRI相容性檢測是一個涉及多物理場(強磁場、梯度場、射頻場)的復雜、專業(yè)且高度標準化的過程。通過嚴格依據ASTM和ISO等國際標準,利用高場強磁體、精密力/扭矩傳感器、光纖溫度監(jiān)測系統(tǒng)、組織模擬液和MRI掃描儀等關鍵設備,對醫(yī)療器械等物品進行磁致位移力、磁致扭矩、射頻致熱和偽影評估等核心項目的測試,可以科學地評估其在MRI環(huán)境中的安全性和功能性表現。測試結果對于醫(yī)療器械制造商獲取產品注冊許可、醫(yī)院制定安全使用規(guī)程、以及最終保障患者在接受MRI檢查時的安全和診斷準確性具有決定性意義。任何聲稱“MRI安全”或“MRI條件性安全”的產品都必須基于符合這些標準的測試數據。對用戶而言,仔細查閱產品的MRI條件標簽并根據其標注的限制條件(如最大場強、最大空間梯度、最大全身SAR)使用至關重要。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
版權所有:北京中科光析科學技術研究所京ICP備15067471號-33免責聲明