您現(xiàn)在的位置：首頁(yè) > 檢測(cè)項(xiàng)目 > 其他檢測(cè)

裸露與半裸露自然金檢測(cè)

1對(duì)1客服專屬服務(wù)，免費(fèi)制定檢測(cè)方案，15分鐘極速響應(yīng)

可選形式：電子報(bào)告紙質(zhì)報(bào)告

可選語(yǔ)言：中文報(bào)告英文報(bào)告

發(fā)布時(shí)間：2025-07-29 10:41:52 更新時(shí)間：2025-07-28 10:41:52

點(diǎn)擊：0

作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

裸露與半裸露自然金檢測(cè)

自然金，尤其是裸露與半裸露狀態(tài)下的顆?；蛎}狀體，是砂金礦和原生金礦勘查與評(píng)價(jià)中的直接找礦標(biāo)志。準(zhǔn)確識(shí)別與檢測(cè)這類自然金對(duì)于確定礦體位置、評(píng)估礦床經(jīng)濟(jì)價(jià)值至關(guān)重要。裸露自然金是指完全暴露在巖石或土壤顆粒表面，可直接肉眼或借助簡(jiǎn)單工具觀察到的金粒；半裸露自然金則指部分被附著物（如氧化鐵膜、黏土礦物、圍巖碎片等）包裹，但仍有部分金體暴露在外的狀態(tài)。檢測(cè)這類金的目標(biāo)不僅是確認(rèn)其存在和含量，還需分析其形態(tài)、粒度、共生礦物、成色（純度）以及賦存狀態(tài)，為地質(zhì)研究和后續(xù)開采工藝提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。

主要檢測(cè)項(xiàng)目

針對(duì)裸露與半裸露自然金，核心檢測(cè)項(xiàng)目包括：

1. 形態(tài)學(xué)特征檢測(cè)： 觀察金?；蚪鹈}的形態(tài)（片狀、粒狀、樹枝狀、絲狀等）、表面特征（溶蝕坑、結(jié)晶面、擦痕）及粒度分布（巨粒、粗粒、中粒、細(xì)粒、微粒）。

2. 礦物學(xué)與賦存狀態(tài)檢測(cè)： 確定金是單體金還是連生金；分析其與脈石礦物（如石英）或伴生金屬礦物（如黃鐵礦、毒砂、方鉛礦、黃銅礦）的嵌布關(guān)系；觀察包裹體種類及分布；評(píng)估半裸露狀態(tài)下覆蓋物的性質(zhì)與厚度。

3. 成色（純度）檢測(cè)： 分析自然金中金（Au）的含量百分比，通常含有不同比例的銀（Ag）及少量銅（Cu）、鐵（Fe）、鉍（Bi）等雜質(zhì)元素。

4. 元素成分分析： 定量分析金粒中主要成分（Au, Ag）及其他微量元素的含量。

常用檢測(cè)儀器

根據(jù)檢測(cè)目的和精度要求，需選用不同的儀器：

1. 便攜式儀器（野外快速篩查）：

高倍手持放大鏡/便攜式顯微鏡： 初步觀察形態(tài)、顏色、光澤及大致賦存狀態(tài)。
便攜式X射線熒光光譜儀 (pXRF)： 快速無(wú)損現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定裸露面元素成分（Au, Ag等），提供近似成色和元素含量信息。對(duì)半裸露金，需盡量清潔暴露面。

2. 實(shí)驗(yàn)室精密儀器：

實(shí)體顯微鏡/雙目顯微鏡： 詳細(xì)觀察金粒形態(tài)、表面特征、連生關(guān)系、包裹體、覆蓋物性質(zhì)。
掃描電子顯微鏡 (SEM)： 結(jié)合背散射電子成像（BSE）觀察高倍微觀形態(tài)、賦存狀態(tài)、共生關(guān)系；能進(jìn)行微區(qū)元素定性或半定量分析 (EDS)。對(duì)半裸露金特別有效，可清晰區(qū)分金體與覆蓋層。
電子探針顯微分析儀 (EPMA)： 提供微區(qū)（1微米級(jí)）高精度元素定量分析，準(zhǔn)確測(cè)定成色（Au, Ag比例）及微量元素含量，是成色分析的“金標(biāo)準(zhǔn)”。
激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 (LA-ICP-MS)： 進(jìn)行微區(qū)痕量元素分析，研究金的來(lái)源與成因。

核心檢測(cè)方法

檢測(cè)流程通常結(jié)合多種方法：

1. 宏觀觀察與樣品制備：

野外或?qū)嶒?yàn)室初步篩選含金樣品。
對(duì)巖石樣品：可能需要切割、磨制光片或薄片。
對(duì)砂礦樣品：通過重砂分離（淘洗、搖床等）富集金粒，手工挑選目標(biāo)顆粒。
對(duì)半裸露金：在顯微鏡下使用極細(xì)的針或超聲波清洗儀（謹(jǐn)慎使用）小心去除部分松散覆蓋物，暴露出金體。避免過度處理導(dǎo)致金粒破碎或信息丟失。

2. 顯微鏡下鑒定：

使用實(shí)體/雙目顯微鏡詳細(xì)描述形態(tài)、顏色（金黃至淺黃，隨銀含量增加變淺）、反射率（極高）、延展性（壓之變扁不易碎）等物理性質(zhì)。
初步判斷賦存狀態(tài)（單體/連生、包裹/半裸露/裸露）及共生礦物。

3. 成分分析：

pXRF現(xiàn)場(chǎng)分析： 直接對(duì)裸露或初步清理后的表面進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試。
實(shí)驗(yàn)室微區(qū)分析 (SEM-EDS, EPMA)： 將挑選出的金粒鑲嵌、磨平、拋光制成靶樣或直接在光片/薄片上尋找目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試點(diǎn)應(yīng)選擇在暴露的金體最純凈區(qū)域（避開裂縫、包裹體或覆蓋物邊緣）。EPMA需使用金或金銀合金標(biāo)樣進(jìn)行校準(zhǔn)。
LA-ICP-MS： 在拋光靶樣或光片上對(duì)金粒進(jìn)行原位微區(qū)剝蝕分析。

參考檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)為檢測(cè)提供規(guī)范指導(dǎo)：

1. 金礦物鑒定通用標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17416.X 《巖礦鑒定技術(shù)規(guī)范》系列： 包含礦物鑒定通則，自然金屬及互化物大類礦物的鑒定特征描述。
行業(yè)規(guī)范/手冊(cè)： 如《金屬礦物顯微鏡鑒定手冊(cè)》、《礦石學(xué)》等，提供詳細(xì)的自然金光學(xué)性質(zhì)、鑒別特征數(shù)據(jù)。

2. 微觀分析與成分測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 15074 《電子探針定量分析方法通則》： 規(guī)范EPMA對(duì)金屬礦物的定量分析流程、數(shù)據(jù)處理及精度要求。
GB/T 4930 《電子探針顯微分析術(shù)語(yǔ)》： 統(tǒng)一術(shù)語(yǔ)。
DZ/T XXXX (相關(guān)地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn))： 可能有針對(duì)金礦物顯微分析的具體操作規(guī)程。
ISO/JIS/ASTM 相關(guān)微束分析標(biāo)準(zhǔn)： 國(guó)際或國(guó)外先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)常作為重要參考。

3. 樣品制備標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T XXXX (相關(guān)地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn))： 規(guī)范光片/薄片制作、重砂樣品分析、單礦物分選等方法。

4. 便攜式XRF應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)/指南：

ASTM E2926 《使用便攜式X射線熒光光譜儀進(jìn)行礦石篩選的標(biāo)準(zhǔn)指南》： 提供現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用的操作建議和數(shù)據(jù)解釋指南。
儀器制造商的操作手冊(cè)和應(yīng)用指南。

注意事項(xiàng)： 檢測(cè)裸露與半裸露自然金時(shí)，尤其需要注意避免混淆（如黃鐵礦因其淺黃銅顏色和明亮金屬光澤常被誤認(rèn)為“愚人金”），保護(hù)樣品完整性（特別是細(xì)小或特殊形態(tài)金粒），并清晰記錄原始狀態(tài)（覆蓋物情況）和處理過程。對(duì)于半裸露金，在成分分析前進(jìn)行適當(dāng)?shù)那鍧嵦幚硎谦@得準(zhǔn)確成色數(shù)據(jù)的關(guān)鍵，但需在顯微鏡監(jiān)控下謹(jǐn)慎操作。綜合運(yùn)用多種觀察和分析手段，結(jié)合地質(zhì)背景，才能全面準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)其地質(zhì)意義和經(jīng)濟(jì)價(jià)值。同時(shí)要嚴(yán)格遵守環(huán)保與安全規(guī)范，特別是在使用化學(xué)試劑或進(jìn)行樣品處理時(shí)。