電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜
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發(fā)布時(shí)間:2025-04-16 08:10:57 更新時(shí)間:2025-04-15 08:12:23
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜(Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy, ICP-AES)是一種高效的多元素分析技術(shù),廣泛應(yīng)用于環(huán)境、食品、材料、地質(zhì)和醫(yī)藥等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢(shì)在于可同時(shí)檢測(cè)多種元素,靈敏度高(可達(dá)ppb級(jí)),線性范圍寬(跨越5-6個(gè)數(shù)量級(jí))。本文重點(diǎn)闡述其檢測(cè)項(xiàng)目的應(yīng)用范圍、方法特點(diǎn)及實(shí)際案例分析。
ICP-AES的檢測(cè)項(xiàng)目覆蓋70余種元素(包括金屬和部分非金屬),根據(jù)應(yīng)用領(lǐng)域可分為以下幾類:
樣品前處理
儀器條件優(yōu)化
定量分析
ICP-AES憑借其高通量、高靈敏度和寬線性范圍,成為環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品安全和材料分析等領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)。未來(lái),隨著聯(lián)用技術(shù)(如ICP-AES-MS)的發(fā)展,其在痕量元素形態(tài)分析和同位素檢測(cè)中的應(yīng)用將進(jìn)一步擴(kuò)展。
(全文約1500字,可根據(jù)需求擴(kuò)展具體檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或儀器型號(hào)細(xì)節(jié)。)
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證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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