平均粒徑
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發(fā)布時(shí)間:2025-04-17 11:13:27 更新時(shí)間:2025-04-16 11:14:36
點(diǎn)擊:261
作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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平均粒徑是材料科學(xué)、制藥、化工、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵參數(shù),直接影響材料的物理化學(xué)性質(zhì)(如流動(dòng)性、溶解性、反應(yīng)活性等)。為確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能,選擇合適的檢測(cè)項(xiàng)目和方法至關(guān)重要。以下從檢測(cè)原理、常用方法、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范等角度,系統(tǒng)闡述平均粒徑的檢測(cè)項(xiàng)目。
平均粒徑的檢測(cè)旨在評(píng)估顆粒體系的粒徑分布(PSD)特征,包括:
檢測(cè)項(xiàng)目通常包括:
檢測(cè)方法 | 原理 | 粒徑范圍 | 適用場(chǎng)景 |
---|---|---|---|
激光衍射法 | 根據(jù)顆粒散射光的角分布反演粒徑 | 0.1 μm - 3 mm | 粉末、乳液、懸浮液(如藥物顆粒、陶瓷粉體) |
動(dòng)態(tài)光散射法(DLS) | 測(cè)量顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的波動(dòng),計(jì)算擴(kuò)散系數(shù) | 1 nm - 1 μm | 納米顆粒、蛋白質(zhì)、膠體溶液 |
篩分法 | 機(jī)械振動(dòng)篩分分級(jí)稱(chēng)重 | 20 μm - 125 mm | 土壤、砂石、粗顆粒材料(低成本、低精度) |
電子顯微鏡法 | 直接成像并統(tǒng)計(jì)粒徑(SEM/TEM) | 1 nm - 100 μm | 納米材料、催化劑(需結(jié)合圖像分析軟件) |
沉降法 | 基于斯托克斯定律計(jì)算沉降速度 | 0.1 μm - 100 μm | 涂料、礦物漿料(需考慮密度差異) |
庫(kù)爾特計(jì)數(shù)法 | 測(cè)量顆粒通過(guò)微孔時(shí)的電阻變化 | 0.4 μm - 1600 μm | 細(xì)胞、微球、高精度單分散體系 |
檢測(cè)項(xiàng)目需遵循國(guó)際或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以確保結(jié)果可比性:
平均粒徑的檢測(cè)項(xiàng)目需根據(jù)實(shí)際需求綜合選擇方法,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)操作與數(shù)據(jù)分析,才能準(zhǔn)確表征材料特性。未來(lái),隨著技術(shù)發(fā)展,在線實(shí)時(shí)檢測(cè)(如聚焦光束反射測(cè)量法,F(xiàn)BRM)和人工智能圖像分析將進(jìn)一步推動(dòng)粒徑檢測(cè)的效率和精度。
通過(guò)系統(tǒng)化的檢測(cè)流程和科學(xué)的報(bào)告(含粒徑分布曲線、統(tǒng)計(jì)表格等),可為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化提供可靠依據(jù)。
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證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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