玻璃粉檢測
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發(fā)布時間:2025-07-25 08:49:03 更新時間:2025-07-25 08:29:01
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作者:中科光析科學技術研究所檢測中心

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玻璃粉(Glass Powder)廣泛用于電子封裝、陶瓷釉料、涂料及復合材料,需驗證其化學成分、粒度分布、熱性能、物理性質(zhì)及雜質(zhì)含量,確保材料滿足工藝適配性與終端產(chǎn)品性能要求。核心依據(jù)標準:
檢測項 | 方法及工具 | 合格標準(示例) |
---|---|---|
SiO?含量(%) | X射線熒光光譜(XRF)或濕法化學分析 | 電子玻璃粉:50-70%(依配方調(diào)整) |
堿金屬氧化物(Na?O+K?O) | 原子吸收光譜(AAS)或ICP-OES | ≤1.0%(低介電玻璃粉) |
重金屬(Pb、Cd) | ICP-MS(痕量元素檢測) | Pb≤50ppm,Cd≤5ppm(環(huán)保要求) |
檢測項 | 方法及工具 | 合格標準 |
---|---|---|
粒度分布(D50) | 激光粒度分析儀(干法/濕法分散) | D50=5-20μm(電子封裝級),D90≤40μm |
熱膨脹系數(shù)(×10??/℃) | 熱膨脹儀(室溫~500℃) | 30-80(匹配基材,如硅片或金屬) |
軟化點(℃) | 熱機械分析(TMA)或半球法 | 600-800℃(高溫封接玻璃粉) |
檢測項 | 方法及工具 | 合格標準 |
---|---|---|
流動性 | 霍爾流速計(50g粉體通過孔徑2.5mm) | 流動時間≤40s(高密度封裝要求) |
燒結密度(g/cm³) | 高溫爐燒結(800℃×1h)+阿基米德法 | ≥2.5g/cm³(電子級玻璃粉) |
雜質(zhì)含量(%) | 篩分法(過325目)+顯微鏡觀察 | 異物顆粒≤0.1%(高純度應用) |
設備/工具 | 功能要求 | 示例型號 |
---|---|---|
激光粒度分析儀 | 量程0.01-3500μm,干濕法兼容 | Malvern Mastersizer 3000、Horiba LA-960 |
X射線熒光光譜儀 | 元素范圍Na-U,精度±0.1% | Thermo Scientific ARL PERFORM’X、Bruker S8 TIGER |
熱膨脹儀 | 溫度范圍RT-1500℃,分辨率0.1nm | Netzsch DIL 402C、TA Instruments DIL 802 |
高溫燒結爐 | 控溫精度±1℃,最高溫度1600℃ | Nabertherm LHT 04/17、Thermo Scientific Thermolyne |
問題 | 原因分析 | 解決方案 |
---|---|---|
粒度分布不均 | 粉碎工藝不穩(wěn)定或分級效率低 | 優(yōu)化球磨參數(shù)(轉速、時間),增加氣流分級 |
熱膨脹系數(shù)偏差 | 配方比例誤差或混合不均 | 精確稱量原料(精度±0.1%),強化混料工藝 |
流動性差 | 粉體吸潮或顆粒形貌不規(guī)則 | 增加防潮包裝(真空+干燥劑),優(yōu)化球形化工藝 |
燒結后氣孔多 | 燒結溫度不足或保溫時間短 | 階梯升溫(如300℃預燒30min),延長保溫時間 |
通過系統(tǒng)性檢測與工藝優(yōu)化,玻璃粉的粒度一致性、熱穩(wěn)定性及工藝適配性可顯著提升,滿足電子封裝、光伏銀漿及特種陶瓷等高端領域需求。建議企業(yè)結合應用場景定制檢測方案,并建立原料-工藝-性能數(shù)據(jù)庫,實現(xiàn)快速質(zhì)量響應與產(chǎn)品迭代。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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