半導(dǎo)體功率器件檢測(cè)
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發(fā)布時(shí)間:2024-07-05 09:57:11 更新時(shí)間:2025-02-18 14:35:14
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半導(dǎo)體功率器件的檢測(cè)是確保其性能、可靠性和安全性的關(guān)鍵步驟。以下是一些常見(jiàn)的檢測(cè)項(xiàng)目:
電學(xué)特性測(cè)試:包括靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)量,如閾值電壓、導(dǎo)通電阻、擊穿電壓、飽和壓降、開(kāi)關(guān)時(shí)間等。
高溫反偏(HTRB)測(cè)試:在高溫條件下對(duì)器件施加反向偏壓,以評(píng)估其在高溫和高壓下的穩(wěn)定性。
溫度循環(huán)測(cè)試:模擬器件在不同溫度下的工作狀態(tài),評(píng)估其在溫度變化下的可靠性。
耐久性測(cè)試:通過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試,評(píng)估器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和耐用性。
機(jī)械應(yīng)力測(cè)試:包括振動(dòng)、沖擊、溫度循環(huán)等測(cè)試,以評(píng)估器件在機(jī)械應(yīng)力下的可靠性。
環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試:評(píng)估器件在不同環(huán)境條件下的性能和穩(wěn)定性。
失效分析:對(duì)測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的失效進(jìn)行詳細(xì)分析,以確定失效原因和改進(jìn)措施。
數(shù)據(jù)管理:測(cè)試系統(tǒng)具備完整的數(shù)據(jù)管理功能,能夠自動(dòng)保存數(shù)據(jù)并生成測(cè)試報(bào)告。
根據(jù) ,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體器件 功率器件用碳化硅同質(zhì)外延片缺陷的無(wú)損檢測(cè)識(shí)別判據(jù) 第3部分:缺陷的光致發(fā)光檢測(cè)方法》提供了一種使用光致發(fā)光技術(shù)對(duì)碳化硅同質(zhì)外延片中的缺陷進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的方法。此標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口,并由河北半導(dǎo)體研究所等單位起草。
另外,根據(jù) ,車規(guī)級(jí)半導(dǎo)體功率器件的測(cè)試認(rèn)證規(guī)范T/CASA 011.1—2021涵蓋了從鑒定檢驗(yàn)到質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的多個(gè)方面,包括但不限于溫度循環(huán)、間歇工作壽命、穩(wěn)態(tài)熱阻、沖擊、掃頻振動(dòng)和恒定加速度測(cè)試等。這些規(guī)范確保了汽車應(yīng)用中使用的半導(dǎo)體功率器件的高標(biāo)準(zhǔn)和質(zhì)量。
證書(shū)編號(hào):241520345370
證書(shū)編號(hào):CNAS L22006
證書(shū)編號(hào):ISO9001-2024001
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