1

低溫試驗

GB/T 2423.1-2008

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

2

高溫試驗

GB/T 2423.2-2008

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

3

恒定濕熱

GB/T 2423.3-2016

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

4

交變濕熱

GB/T 2423.4-2008

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

5

沖擊試驗

GB/T 2423.5-2019

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗Ea和導則： 沖擊

6

錘擊試驗

GB/T 2423.55-2006

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗Eh 錘擊試驗

7

錘擊試驗

GB/T 20138-2006

電器設備外殼對外界機械碰撞的防護等級（IK代碼)

8

振動試驗

GB/T 2423.10-2019

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc :振動(正弦)

9

振動試驗

GB/T 2423.56-2018

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數字控制)和導則

10

外殼防護等級（IP代碼）

GB/T 2423.38-2008

電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗R :水試驗方法和導則