芯片失效分析檢測樣品有哪些?中析研究所可對芯片失效分析檢測，包括高頻大功率晶體管等，出芯片失效分析檢測報告周期短，數(shù)據(jù)準確。

檢測范圍

　　開關電源芯片、光電編碼器主芯片、納米級存儲器芯片、晶振芯片、高頻大功率晶體管、氣體傳感器模塊、光伏組件接線盒二極管、高壓P-i-N二極管、軍用芯片、光伏芯片、晶圓芯片、LED芯片

檢測項目

　　脫落失效分析、擊穿失效分析、瞬態(tài)失效分析

檢測標準

　　GB/T 36613-2018發(fā)光二極管芯片點測方法

　　GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化鎵襯底

　　GB/T 30855-2014LED外延芯片用磷化鎵襯底

　　GB/T 28856-2012硅壓阻式壓力敏感芯片

中析研究所檢測優(yōu)勢

　　檢測周期短

　　中析研究所秉承服務優(yōu)先原則，保證數(shù)據(jù)準確的基礎上，盡可能縮短檢測周期，讓客戶能夠盡快獲得準確高效的檢測報告

　　數(shù)據(jù)準確

　　中析研究所儀器設備齊全、實驗室擁有高素質(zhì)技術人員、協(xié)助匹配檢測項目，檢測體系完善、確保了數(shù)據(jù)的準確性。

　　服務范圍廣

　　服務范圍廣、接受樣品種類多、接受全國寄樣檢測、專門負責人跟進。

　　費用低

　　中析研究所在保證高質(zhì)量高效率檢測的同時，專項報價實驗室，保證客戶享受到行業(yè)內(nèi)極具競爭力的價格優(yōu)勢。

　　報告應用廣

　　中析研究所報告可幫助您凸顯產(chǎn)品特性、提高產(chǎn)品競爭力、縮短研發(fā)周期、減少研發(fā)成本、減少退貨風險等

檢測機構資質(zhì)證書

CMA認證

檢驗檢測機構資質(zhì)認定證書

證書編號：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認可

實驗室認可證書

證書編號：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認證

質(zhì)量管理體系認證證書

證書編號：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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