太陽輻射試驗
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發(fā)布時間:2024-05-21 08:15:32 更新時間:2025-02-18 14:32:18
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太陽輻射試驗的目的是為了確定地面上或較低大氣層中使用或儲存的電子電工產(chǎn)品受太陽輻射所引起的熱效應(yīng)、光化學(xué)效應(yīng)以及對產(chǎn)品的機械性能和電性能的影響
外墻材料,印刷品,軍用裝備等。
直接自然大氣曝曬(ASTM G7,ASTM D4141等)
黑箱曝曬(SAE J1976,ISO 877等)
太陽跟蹤IP/DP箱曝曬試驗(ISO 2810,ISO 105-B03等)
玻璃下曝曬(GB/T 3681,GB/T 9276等)
太陽跟蹤聚光加速試驗(GB/T 3511,GB/T 15596等)
1GB/T 2423.24-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導(dǎo)則
2GB/T 4797.4-2006電工電子產(chǎn)品 自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度
3GB/T 4797.4-2019環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 太陽輻射與溫度
4GB/T 5170.9-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第9部分:太陽輻射試驗設(shè)備
5GB/T 12085.9-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第9部分:太陽輻射
6GB/T 12085.17-2011光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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