HASS試驗(yàn)
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發(fā)布時(shí)間:2025-07-25 08:49:03 更新時(shí)間:2025-09-14 14:38:54
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作者:中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

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目的和作用:HASS的主要目的是提高產(chǎn)品的可靠性和平均無(wú)故障時(shí)間(MTBF),同時(shí)降低產(chǎn)品成本。
基本原理:HASS基于的原理是使用高應(yīng)力水平快速激發(fā)產(chǎn)品的潛在缺陷,這些應(yīng)力可能包括溫度、濕度、振動(dòng)等。
篩選剖面設(shè)計(jì):HASS試驗(yàn)需要設(shè)計(jì)具體的應(yīng)力剖面,這通常涉及溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等,以確保覆蓋產(chǎn)品的潛在故障模式。
典型HASS過(guò)程:一個(gè)典型的HASS過(guò)程可能包括將產(chǎn)品暴露在高溫和振動(dòng)環(huán)境下,觀察其性能變化,識(shí)別故障并進(jìn)行分析。
應(yīng)用領(lǐng)域:HASS廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè),用于提高最終產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
與HALT的區(qū)別:雖然HASS與高加速壽命試驗(yàn)(HALT)有相似之處,但HASS更側(cè)重于生產(chǎn)階段的篩選,而HALT更多用于設(shè)計(jì)階段的測(cè)試和改進(jìn)。
技術(shù)特點(diǎn):HASS試驗(yàn)具有高效率、高覆蓋率和高成本效益的特點(diǎn),能夠在短時(shí)間內(nèi)剔除大量潛在的早期故障。
PCB,芯片產(chǎn)品等
1) 進(jìn)行預(yù)篩選,剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷;
2) 進(jìn)行探測(cè)篩選,找出明顯缺陷;
3) 故障分析,改進(jìn)措施。
GB/T 32466-2015電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程 高加速應(yīng)力篩選導(dǎo)則
證書編號(hào):241520345370
證書編號(hào):CNAS L22006
證書編號(hào):ISO9001-2024001
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