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電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性提升

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發(fā)布時(shí)間：2025-07-25 08:49:03 更新時(shí)間：2025-07-25 08:02:25

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作者：中科光析科學(xué)技術(shù)研究所檢測(cè)中心

　　汽車電子化：新能源和智能駕駛推高了汽車電子化的程度。電子化產(chǎn)品成功的關(guān)鍵在于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)與可靠性，車規(guī)級(jí)電子元器件保證產(chǎn)品性能與可靠性，降低風(fēng)險(xiǎn);

　　產(chǎn)品質(zhì)量：SMT工藝質(zhì)量問題占成熟電子供應(yīng)商質(zhì)量問題比重的80%。SMT工藝質(zhì)量異常輕則導(dǎo)致產(chǎn)品失靈失效，重可引起整車系統(tǒng)異常，導(dǎo)致批次性召回，并對(duì)乘員生命構(gòu)成威脅。

　　產(chǎn)品范圍：

　　車規(guī)級(jí)元器件供應(yīng)商、汽車電子組件-PCBA、車載系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品、金屬材料、非金屬材料

　　測(cè)試項(xiàng)目：

服務(wù)類別	服務(wù)項(xiàng)目
車規(guī)級(jí)芯片驗(yàn)證	半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101產(chǎn)品測(cè)試
	功率模塊AQG 324產(chǎn)品測(cè)試
	光電氣AEC-Q102產(chǎn)品測(cè)試
	阻容感等電器AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試
	集成電路AEC-Q100測(cè)試
	多芯片組件(MCM）AEC-Q104測(cè)試
元器件篩選	氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)
	電子元器件破壞性物理分析
	電子元器件篩選
電性能與功能測(cè)試	FAKRA/HAD連接器信號(hào)完整性測(cè)試
	功率器件參數(shù)測(cè)試
	汽車音響指標(biāo)測(cè)試
工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)	BGA染色測(cè)試
	PCB/PCBA金相切片測(cè)試
	X射線透視測(cè)試
	剪切力拉力測(cè)試
	離子污染度測(cè)試
	錫須檢查
車規(guī)級(jí)芯片失效分析	無損檢測(cè)分析
	電性能分析
	樣品破壞分析
	精密顯微鏡分析
	綜合性能分析
材料可靠性評(píng)價(jià)與產(chǎn)品質(zhì)量提升	材料壽命預(yù)估與可靠性
	非金屬失效分析
	金屬常規(guī)測(cè)試
	金屬失效分析
	離子色譜測(cè)試